メニューを飛ばして本文へ

分析

ISO/IEC17025 2018年3月認定取得予定(現在申請中の認定範囲は以下の通り)

名称 試験対象項目
ガスクロマトグラフ質量分析 GC/MS 臭素系難燃剤(PBDE)
融合結合プラズマ質量分析法 ICP/MS 鉛、カドミウム、水銀、総クロム
蛍光X線分析法 鉛、カドミウム、水銀、総クロム、臭素

RoHS指令対象物質分析

蛍光X線分析装置(XRF)にてスクリーニング分析を行い、基準値付近及び超過が得られた場合、精密分析を行い確認します。

残留ガス分析

残留する有害なガス成分

溶出成分分析

溶出する主成分または添加剤など

分析機器名 略号 メーカー/型式
誘導結合プラズマ質量分析計 ICP-MS Agilent 7800
イオンクロマトグラフ分析装置 IC Thermo Fisher Dionex Integrion
蛍光X線分析装置 XRF HITACHI EA6000VX
フーリエ変換赤外分光分析装置 FT-IR Perkin Elmer Frontier
ガスクロマトグラフ質量分析計 GC-MS
HS/GC-MS
Py/GC-MS
Agilent 7890/5977/7697/FRONTIER LAB EGA/PY/3030D
液体クロマトグラフ-タンデム質量分析装置 LC-MS/MS Agilent1200Infinity AB SCIEX QTRAP4500
走査型電子顕微鏡-X線分析装置 SEM-DEX HITACHI SU1000/アメテックElement
分光光度計 UV-VIS SIMADZU UV-2600
マイクロウェーブ分解装置 マイルストーンゼネラル ETHOS EASY
粉砕機(凍結粉砕) Retsch MM400

誘導結合プラズマ質量分析計

Agilent 7800

微量金属の測定
RoHS指令:鉛、水銀、カドミウム

イオンクロマトグラフ分析装置

Thermo Fisher Dionex Integrion

水溶液中の陰イオン、陽イオン、有機酸の測定

蛍光X線分析装置

HITACHI EA6000VX

基板全体の高速マッピング、樹脂や金属に含有する微量成分のスクリーニング検査
RoHS指令:鉛、水銀、カドミウム、臭素

フーリエ変換赤外分光分析装置

Perkin Elmer Frontier

有機/高分子素材の構造解析(官能基分析)

ガスクロマトグラフ質量分析計

Agilent 7890/5977/7697/FRONTIER LAB EGA/PY/3030D

GC-MS
高分子材料中などに含まれる主成分または添加物の測定
RoHS指令:臭素系難燃剤・フタル酸エステル類

HS/GC-MS
高分子材料中などに含まれる揮発性有機化合物、残留ガス成分の測定

Py/GC-MS
高分子素材中に含まれる熱分解成分の測定
RoHS指令:フタル酸エステル類

液体クロマトグラフ-タンデム質量分析装置

Agilent1200Infinity AB SCIEX QTRAP4500

高分子素材中などに含まれる主成分または添加剤の測定、溶出成分の測定

走査型電子顕微鏡-X線分析装置

HITACHI SU1000/アメテックElement

表面形状観察、定性、マッピング、線分析

分光光度計

SIMADZU UV-2600

溶液中の無機物、有機物の測定
RoHS指令:六価クロム

マイクロウェーブ分解装置

マイルストーンゼネラル ETHOS EASY

個体試料を分解→溶液化

粉砕機(凍結粉砕)

Retsch MM400

試料の破砕、混合
凍結粉砕可能