試験設備

分析機器名	略号	メーカー/型式
誘導結合プラズマ質量分析計	ICP-MS	Agilent 7800
イオンクロマトグラフ分析装置	IC	Thermo Fisher Dionex Integrion
蛍光X線分析装置	XRF	HITACHI　EA6000VX
フーリエ変換赤外分光分析装置	FT-IR	Perkin Elmer Frontier
ガスクロマトグラフ質量分析計	GC-MS HS/GC-MS Py/GC-MS	Agilent　7890/5977/7697/FRONTIER LAB EGA/PY/3030D
液体クロマトグラフ-タンデム質量分析装置	LC-MS/MS	Agilent1200Infinity　AB　SCIEX　QTRAP4500
走査型電子顕微鏡-X線分析装置	SEM-EDX	（株）日立ハイテクノロジーズ FLEX-SEM1000
デジタルマイクロスコープ	DVM6A	ライカマイクロシステムズ（株）
分光光度計	UV-VIS	SIMADZU　UV-2600
マイクロウェーブ分解装置		マイルストーンゼネラル　ETHOS　EASY
粉砕機（凍結粉砕）		Retsch　MM400
オートクレーブ	LSX-700	（株）トミー精工
マイクロカッティングマシン	BS-300CP	メイワフォーシス（株）

誘導結合プラズマ質量分析計

Agilent 7800

微量金属の測定
RoHS指令：鉛、水銀、カドミウム

Thermo Fisher Dionex Integrion

水溶液中の陰イオン、陽イオン、有機酸の測定

HITACHI　EA6000VX

基板全体の高速マッピング、樹脂や金属に含有する微量成分のスクリーニング検査
RoHS指令：鉛、水銀、カドミウム、臭素

Perkin Elmer Frontier

有機/高分子素材の構造解析（官能基分析）

Agilent　7890/5977/7697/FRONTIER LAB EGA/PY/3030D

GC-MS
高分子材料中などに含まれる主成分または添加物の測定
RoHS指令：臭素系難燃剤・フタル酸エステル類

HS/GC-MS
高分子材料中などに含まれる揮発性有機化合物、残留ガス成分の測定

Py/GC-MS
高分子素材中に含まれる熱分解成分の測定
RoHS指令：フタル酸エステル類

Agilent1200Infinity　AB　SCIEX　QTRAP4500

高分子素材中などに含まれる主成分または添加剤の測定、溶出成分の測定

㈱日立ハイテクノロジーズ　FLEX-SEM1000

表面形状観察、定性、マッピング、線分析

SIMADZU　UV-2600

溶液中の無機物、有機物の測定
RoHS指令：六価クロム

マイルストーンゼネラル　ETHOS　EASY

個体試料を分解→溶液化

Retsch　MM400

試料の破砕、混合
凍結粉砕可能

DVM6A　　ライカマイクロシステムズ（株）

LSX-700　（株）トミー精工

BS-300CP　EXAKT